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通用電子測(cè)試的必備技術(shù)研討會(huì)

場(chǎng)次安排: 2008年1月15日 西安    起止時(shí)間: 2007-03-02 至 2007-11-15

此次研討會(huì)專為以下工程師量身定制
• 希望了解下一代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的最新發(fā)展趨勢(shì)及其相應(yīng)的解決方案
• 希望縮短測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)周期,降低測(cè)試系統(tǒng)投資,提高測(cè)試系統(tǒng)靈活性、可擴(kuò)展性
• 希望了解PXI/PXIe總線技術(shù)和虛擬儀器技術(shù)
• 希望了解虛擬儀器技術(shù)在通用電子測(cè)試領(lǐng)域的應(yīng)用方案

通過本次研討會(huì)您將了解到
• 下一代自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)體系架構(gòu),學(xué)習(xí)如何利用模塊化的硬件平臺(tái)建立混合測(cè)試系統(tǒng)
• 基于PXI/PXIe總線架構(gòu)的優(yōu)勢(shì),及其為自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)性能帶來的改善
• 基于LabVIEW、ANSI C和VC/VB/.NET的虛擬儀器軟件
• PXI技術(shù)在視頻、音頻、射頻、數(shù)字、電壓/電流/功率測(cè)試中的應(yīng)用和演示

本場(chǎng)研討會(huì)中涉及的產(chǎn)品包括
• LabVIEW、CVI、Measurement Studio、TestStand
• PXI/PXIe混合測(cè)試系統(tǒng)
• 用于視頻、音頻、射頻、數(shù)字、電壓/電流/功率測(cè)試的模塊化儀器

時(shí)間與地點(diǎn)
時(shí)間:2008年1月15日 14:00——17:00 (13:30開始進(jìn)場(chǎng))
地點(diǎn):西安凱悅(阿房宮)飯店2樓阿房廳(西安東大街158號(hào))

更多研討會(huì)資料
LabVIEW8.5中文評(píng)估版軟件
2007測(cè)試測(cè)量和自動(dòng)化解決方案優(yōu)秀論文集


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