專為以下工程師度身定制
1.專為通訊，消費電子和IC行業(yè)的測試而創(chuàng)建的ATE測試平臺
2.渴望加速產(chǎn)品開發(fā)周期并大幅提高效率
3.需要更進一步了解NI模塊化儀器產(chǎn)品及應(yīng)用詳細內(nèi)容

通過本場研討會，您將學習到
1.了解在創(chuàng)建基于PXI/PXI Express的ATE測試系統(tǒng)時必需的技術(shù)要點，尤其是針對通訊，消費電子和IC行業(yè)的測試
2.學習上述行業(yè)設(shè)計和測試的難點以及如何克服這些難點
3.通過實際的案例學習模塊化儀器的應(yīng)用

本次研討會將涉及以下產(chǎn)品
1.7位半數(shù)字萬用表和開關(guān)模塊
2.2 GS/s 高速數(shù)字化儀
3.200M 任意波形發(fā)生器
4.400M LVDS高速數(shù)字I/O
5.最新2.7G 矢量信號發(fā)生器 PXIe-5672
6.最新2.7G 矢量信號分析儀 PXI-5661
7.最新16 通道 24位 動態(tài)信號采集設(shè)備 PXI-4496

會議安排
時間：10月25日 14:00-17:00
地點：深圳圣廷苑酒店2樓多功能I會議廳 (深圳福田區(qū)華強北路4002號)

網(wǎng)絡(luò)學習資源
LabVIEW8.5中文評估版軟件
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