簡介:
高速的數(shù)字電路和通信系統(tǒng)的測試在當今變得越來越普遍，本次研討會將涉及高速數(shù)字信號測試的基本概念并指導用戶構建數(shù)字自動化測試系統(tǒng)。同時您將深入了解到最常用的兩類數(shù)字應用：數(shù)字接口測試和數(shù)字激勵／響應測試，涉及的具體應用包括LCD測試，功能測試以及比特誤碼率測試等。研討會上還將貫穿實際的應用演示和真實的案例分析，幫助您更好的理解數(shù)字信號的測試應用。

您將通過本次研討會：
了解數(shù)字信號測試的基本概念和發(fā)展趨勢
了解NI提供的高速數(shù)字信號測試解決方案
共同探討不同的數(shù)字信號應用和實例分析

涉及的產(chǎn)品/應用/演示包括：
PXI，高速數(shù)字I/O，LabVIEW

用戶案例介紹：
LCD測試和高速數(shù)據(jù)流盤

網(wǎng)絡資源：
LabVIEW8.5中文評估版軟件
PXI Express混合信號儀器視頻教程

時間地點：
2008年1月15日 14：00——17：00（13：45開始進場）
上海新錦江大酒店4樓蘭花廳（上海盧灣區(qū)長樂路161號）