工控網(wǎng)首頁
>

新聞中心

>

業(yè)界動態(tài)

>

客戶案例 | 蔡司清潔度檢測方案助力能源企業(yè)通向凈零之路

客戶案例 | 蔡司清潔度檢測方案助力能源企業(yè)通向凈零之路

INNIO Group坐落于奧地利顏巴赫 (Jenbach),是一家致力于創(chuàng)新能源生產(chǎn)和壓縮系統(tǒng)研發(fā)制造的企業(yè)。由于大型發(fā)動機的功率不斷提高,單個組件承受的機械應力也不斷增加,位于顏巴赫的 INNIO Group 總部早在 10 年前就引入了清潔度檢測標準。為確定有害殘留污染物顆粒的來源,自2015 年起INNIO Group開始使用蔡司EVO 掃描電子顯微鏡進行檢測。

image.png

▲“即使是微小的金屬污染物顆粒,也可能對我們強大的發(fā)動機造成重大損害,“INNIO顏巴赫工廠的運營質(zhì)量負責人Christian Troger強調(diào)稱。


例如,如果有沙粒大小的金屬顆粒進入連桿軸承,就會導致軸承中的油膜破裂。潤滑不足會增加曲軸和連桿軸承之間的摩擦,從而導致嚴重損壞。對一臺總重達 91 噸、連桿軸承長近 7 米、重達 8.5 噸的發(fā)動機(如顏巴赫 J920) 進行損壞修復是一項復雜而成本昂貴的工作。維修也會大大推遲向客戶交付發(fā)動機的時間。發(fā)動機的功率密度越高,清潔度檢測就越重要。


行業(yè)領導者

顏巴赫憑借其發(fā)動機,能為客戶提供 250 KW 至10.4 MW功率范圍的發(fā)電機組,以及電熱聯(lián)產(chǎn)和電熱冷三聯(lián)供系統(tǒng)。這些系統(tǒng)能夠適應多種能源,包括填埋氣、污水沼氣、生物甲烷或氫氣,助力客戶邁向凈零排放目標。迄今為止,顏巴赫發(fā)動機已在全球約 100 個國家交付超過 25,000 臺。談及顏巴赫發(fā)動機的性能與可靠性,INNIO Group 為行業(yè)設立了標桿。


顏巴赫發(fā)動機的持續(xù)升級對其組件影響顯著。通過將機械效率提升至超過 50%,并增強對甲烷指數(shù)、氫氣比例及生物氣體的燃料靈活性,發(fā)動機的最高壓力與軸承負荷增加,熱負荷也隨之升高。這就需要使用更堅硬的軸承和更嚴格的公差。但這也增加了油膜因臨界顆粒而破裂的風險。


image.png

▲“清潔度檢測在我們的生產(chǎn)中至關重要,我們借助ZEISS EVO Mat 25進行檢測,確保100%達到技術規(guī)范,使我們的發(fā)動機能長時間保持高品質(zhì)運行?!?INNIO Group 運營副總裁兼現(xiàn)場經(jīng)理Martin Mühlbacher說道。


新的生產(chǎn)標準

2012/2013 年INNIO Group決定引入清潔度檢測標準,促使 INNIO 顏巴赫工廠經(jīng)歷了一場重大變革。借鑒汽車行業(yè)的經(jīng)驗并遵循 VDA 19 指南,首先對整個生產(chǎn)過程進行了模擬設計。接著,工廠針對敏感組件定義了清潔度規(guī)范,并確定了生產(chǎn)中的高度關鍵區(qū)域,共涉及約 800 項改進步驟。


INNIO Group 為了能夠分析組件上的殘留污染物,還建立了一個實驗室,配備了專門開發(fā)的設備,用于沖洗重達數(shù)噸的組件。公司還發(fā)開了一種吸塵器,內(nèi)置特制的旋風濾膜,用于分析和清潔發(fā)動機的關鍵區(qū)域,并投資購置了能檢測殘留污染物顆粒分析濾膜的顯微鏡。蔡司EVO掃描電子顯微鏡在發(fā)現(xiàn)和清除潛在污染源方面發(fā)揮著關鍵作用。


image.png

▲INNIO Group建立了一個實驗室,配備了專門開發(fā)的設備,用于沖洗重達數(shù)噸的組件


image.png

▲在出口處收集濾膜并進行顯微分析


image.png

▲如果超出限值,則會對帶有顆粒的分析濾膜進行更仔細的檢查


image.png

▲ 蔡司EVO掃描電子顯微鏡在其中發(fā)揮了關鍵作用


用于測定材料的掃描電子顯微鏡

利用 ZEISS EVO確定材料成分及顆粒來源,需先將顆粒與組件分離,這一過程在INNIO位于顏巴赫的 Tecsa 實驗室進行。通過特殊清洗機從組件上清洗下來的殘留污染物顆粒會被濾膜捕獲。然后在現(xiàn)場用光學顯微鏡對該濾膜進行檢測。ZEISS EVO SEM 搭載 ZEISS Smart Particle Investigator(Smart PI)軟件,用于顆粒分析與分類。該軟件符合現(xiàn)行的 ISO 和 VDA 技術潔凈度標準,將操作 SEM、處理圖像和執(zhí)行基本分析所需的所有功能整合到一個應用程序中。


image.png

▲ZEISS EVO SEM與用于顆粒分析和分類的軟件ZEISS Smart Particle Investigator(Smart PI)配合使用


審核編輯(
李娜
)
投訴建議

提交

查看更多評論
其他資訊

查看更多

工業(yè)顯微鏡解決方案|血液透析導管微孔形貌的精密探索

探索數(shù)據(jù)中心,如何“煉”出AI服務器品質(zhì)高境界

光學測量技術知多少——景深與測量體積

服務專欄 | ZEISS CONTURA 過濾單元濾芯檢查指南

革新登場!蔡司入門款工業(yè)CT METROTOM 1 - 內(nèi)外檢測一體化,注塑品質(zhì)標桿再升級