歐姆龍新品發(fā)布丨E3AS-HL:搭載FPGA的CMOS激光傳感器,穩(wěn)定檢測復(fù)雜工件
2024年10月,歐姆龍自動(dòng)化(中國)有限公司新品【距離設(shè)定型光電傳感器E3AS-HL】發(fā)布。以卓越的性能,可穩(wěn)定檢測復(fù)雜工件,大幅縮短設(shè)備調(diào)試時(shí)間,適應(yīng)各類現(xiàn)場環(huán)境。
傳統(tǒng)光電傳感器在應(yīng)對(duì)微小物體識(shí)別、復(fù)雜背景或在嚴(yán)苛環(huán)境下工作時(shí),存在著測量精度不高、容易損壞以及檢測死角大等課題。一旦工件的形狀、顏色、光澤等發(fā)生變化時(shí),必須選擇不同傳感器并重新設(shè)計(jì)設(shè)備,嚴(yán)重制約了生產(chǎn)效率和產(chǎn)品品質(zhì)提高。歐姆龍全新發(fā)布的E3AS-HL,有助于穩(wěn)定檢測復(fù)雜的工件。
技術(shù)優(yōu)勢
①先進(jìn)的感測算法,靈敏度顯著提高
E3AS-HL是一款采用FPGA的激光Class 1的CMOS激光傳感器,通過對(duì)受光波形進(jìn)行每秒一萬次的高速采樣和歐姆龍累計(jì)處理,靈敏度相較以往有顯著提高??梢苑€(wěn)定檢測表面帶有光澤、形狀復(fù)雜、由黑色橡膠制成和難以接收反射光的工件。
注:不適用于透明體。
②采用透鏡校準(zhǔn)技術(shù),降低材質(zhì)影響
FROM:受光透鏡的位置調(diào)整精度較低,CMOS上的受光點(diǎn)模糊,容易受到材質(zhì)影響。
TO:以μm為單位自動(dòng)調(diào)整受光透鏡的位置,使受光點(diǎn)最小化,不易受到材質(zhì)影響。
穩(wěn)定檢測各類復(fù)雜工件
?檢測形狀復(fù)雜的工件
E3AS-HL采用線性光束,反射光可從任一面返回傳感器,不易受到工件表面形狀影響。
?檢測低反射率薄工件
E3AS-HL則不易受材質(zhì)和顏色影響,能夠檢測出工件與背景間的段差。
?檢測帶有顏色或光澤的工件
E3AS-HL不受工件顏色和光澤因素影響,即使包裝材料變更,也能穩(wěn)定檢測。
?檢測易拉罐和塑料瓶等曲面工件
支持較大范圍的安裝角度
?E3AS-HL支持較大范圍的安裝角度,不受金屬曲面工件和低反射率工件曲面工件的形狀影響。
* 1. 用于本公司標(biāo)準(zhǔn)檢測物體時(shí)的典型值
耐環(huán)境性能佳
?堅(jiān)固外殼,密封性強(qiáng)
傳感器外殼采用不銹鋼(SUS316L),并以歐姆龍的“不同材質(zhì)激光熔接技術(shù)”,提高了不銹鋼和樹脂的附著力和密封性。
?采用正面保護(hù)罩,降低傳感器故障頻率
應(yīng)用場景
?食品行業(yè)
?汽車行業(yè)
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